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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 q!OB?03n  
    h(>eHP  
                               xh90qm  
    Il8,g+W]  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Qm >x ?  
    HtN!Hgpwg  
    建模任务     C3hQT8~  
    !Z}d^$  
    zZhA]J  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 f)b+>!  
    'LyEdlC]  
     70MSP;^  
    }j_2K1NS{  
    图层矩阵解算器 G%q^8#  
    j} .,|7X  
     zT< P_l  
    kLfk2A;'i  
    YTk"'q-  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 *?o`90HHP[  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 !VzbNJ&'  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ^{m&2l&87  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 pVa9g)+z}  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     z5_#]:o&  
    :p|wo"=@Ge  
    更多的信息： ~ZuFMVR  
    2x<A7l)6  
    总结-组件 M#CYDEB  
     <j<V{Wc  
    |l#<vw wE  
     dU"ca|u  
    <8,,pOb  
    两条光谱线的可视化 p7{%0  
    .m^L,;+2  
     "rJJ~[Y  
    精细vs.涂层反射率 c*~ /`lG  
    pFW^   
    (]}52%~  
    pOKs VS%fT  
    精细度vs.涂层反射率 +bhR[V{0g  
    zcrM3`Zh  
    6oA2"!u^w  
    内部谐振增强     ,'%wadOo  
    uA]!y{"}J  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 oWP3Y.  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 = 9K5f# ;e  
    .I#ss66h  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 iS@+qWo1  
    } Tz<fd/  
    VirtualLab Fusion技术 u6 lcl}'  
    9ZVzIv(   
      d  H ;  
     
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