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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 n{d}]V@  
    q@F"fjWBr  
                               D$q"k"  
    it=L_zu}  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Wg[?i C*~  
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    建模任务     v]F q}I"  
    .3?'+KZ,  
    >F8&wh'BjY  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 zT#36+_?  
    z}.!q{Q  
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    Iwi>yx8  
    图层矩阵解算器 ZLyJ  
    oo) P(_"u  
     8A"[n>931  
    t;Jt+k~  
    #i-!:6sLA  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 T?!^-PD9*  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 C,n]9  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 |w- tkkS  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 2_vE  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Ictc '#y  
    $Rv}L'L  
    更多的信息： H. uflO  
    c=I!?a"  
    总结-组件 0 !9vGs  
    jec03wH_0  
    "8ILV`[  
     , M/-lW  
    {*~aVw {k  
    两条光谱线的可视化 HB {-^9{E  
    [P OcO  
     ,a?)#X  
    精细vs.涂层反射率 |.=Ee+HZ  
    -?e~dLu  
    >4ebvM 0|  
    *0{MAm  
    精细度vs.涂层反射率 Bh:AY@k  
    F) {f{-@)  
    v!t*Ng  
    内部谐振增强     CWE jX-  
    yZHQql%J O  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 H|0B*i@81  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 nuw90=qj!]  
    DG8$zl5  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 UL; d H  
    fdho`juFa  
    VirtualLab Fusion技术 &|%z!x6f  
    ?XsL4HI x  
     y 97QqQ^  
     
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