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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 1 u_2 4  
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                               o"}&qA;  
    pH l2!{z  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 /j69NEl  
    =<zSF\Zr_  
    建模任务     P(gVF |J?  
    A r7mH4M  
    QUZQY`' @  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 z>p`!-'ID  
    eGSp(o56  
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    DEQE7.]3q  
    图层矩阵解算器 1LId_vJtJ  
    =Pb5b6Y@6  
     /`O]etr`d  
    ?7nr\g"g(  
    oBNX8%5w  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 `=}UFu  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 DMcxa.Sd!  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 T<e7(=  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 wAl}:|+n  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     jy(+ 0F  
    *zVLy^L_8  
    更多的信息： Z-h7  
    N>pmhskN?  
    总结-组件 d1TdH s\  
    uQu/(5  
    oAZF3h]po  
     D_n}p8blT  
    0+<eRR9 -  
    两条光谱线的可视化 b~r{J5x@  
    p;u 1{  
     xBRh !w  
    精细vs.涂层反射率 'LbeL1ca  
    GKyG #Fl  
    4OOn,09  
    Gl8&FrR  
    精细度vs.涂层反射率 7{An@hNh  
    =0PRAc  
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    内部谐振增强     { 8f+h  
    "7yNKO;W  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 t `Y!"l  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ![@T iM  
    H\| ]!8w5Z  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 hH1lgc  
    Wyq~:vU.S  
    VirtualLab Fusion技术 MZ5Y\-nq\  
    Cl6m$YUt  
     GjeUUmr  
     
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