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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 Nkk+*(Z  
    !PEP`wEKdp  
                               Jwbb>mB!  
    {fn1sGA  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 mzn#4;m$  
    LC0g"{M  
    建模任务      *,e `.  
    y+M9{[ i/O  
    -K0!wrKC  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 x#'v}(v  
    bDV/$@p  
     f<Y g_TG  
    }IV=qW,  
    图层矩阵解算器 ^x}k1F3  
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     W>E|Iv[o  
    OJ<V<=MYZ  
    4l_~-Peh  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ?rQIUP{D7  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 P:m6:F@hO  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 pUeok+k_  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Ji0FHa_  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ]U.*KkQ  
    US] I[Y6V  
    更多的信息： )_1;mc8B  
    +?GsIp@>jh  
    总结-组件 Url8&.pw  
    = Tq\Ag:  
    Vv*](iM  
     BSyS DM  
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    两条光谱线的可视化 Eu$hC]w  
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     x+W,P  
    精细vs.涂层反射率 |) CfO4  
    VB}^&{t)!  
    }k_'a^;C1  
    >]ZW.?1h  
    精细度vs.涂层反射率 Ypx"<CKP}  
    a}'dIDj  
    >4nQ&b.u  
    内部谐振增强     r|Q/:UV?w  
    U,Z7n H3_  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Qv1cf  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 1 abQoe  
    h|OWtf4  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 \ 9#X]H  
    ?~tx@k$;Es  
    VirtualLab Fusion技术 ?I ;PJj  
    5a2+6N  
     C{]1+eL  
     
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