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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 #$vQT}  
     y5"b(nb  
                               P0 R8 f  
    PtfxF]%H  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 F+%6?2 J  
    r&$r=f<  
    建模任务     u"WqI[IV  
    9$]I3k  
    F]_w~1 n5  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 '/2u^&W  
    tw<mZd2H  
     ,hMd xZJd  
    0keqtr  
    图层矩阵解算器 hFLD2 <   
    fdU`+[_  
     : `Nh}Ka0  
    !CJh6X !  
    S6Er# )k  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 +(a}S$C  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 U|[+M@F_L  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 mpsi{%gA  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ?^y!}(  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     V:<NQd  
    itH` s<E  
    更多的信息： \=3fO(  
    )GbVgYkk  
    总结-组件 hv]}b'M$  
    lWiC$  
    &:]ej6 V'[  
     m+jW+  
    a$}n4p  
    两条光谱线的可视化 y{Fq'w!ap  
    ,WvCslZ  
     *hm;C+<~  
    精细vs.涂层反射率 f( %r)%  
    7v{X?86&  
    ~~8?|@V  
    [/P}1 c[)U  
    精细度vs.涂层反射率 AK$h S M  
    )MV`(/BC*  
    3#d?  
    内部谐振增强     PO$ OXw  
    '4T]=s~N  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ;*~y4'{z  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Q!%C:b  
    7W7!X\0Y  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Y6&B%t<bo  
    <Z0N)0|  
    VirtualLab Fusion技术 |I0O|Zdv  
    l.Psh7B2  
     wZAY0@pA  
     
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