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摘要 R?~h7 d ~x"79=!W 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ~!F4JRf PX2k,%
dJ:x1j A9Wqz"[ 建模任务 s@LNQ|'kO /2Lo{v=0[ %*c|[7Z~V 概述 y32++b! >Ryss@o •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 N"RYM~c7 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 2^#UO=ct d5"EvT
aiZo{j<6 NJf(,Mr*| 光线追迹仿真 <-:@} |br #S%Y;ilq •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 *X
l<aNNx •单击go! p
<=% •获得了3D光线追迹结果。 !u{"] T: \41)0,sEy
J.mewD!%z Z3So|M{v 光线追迹仿真 prEu9$:t N@*wi"Q •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Tj21YK.mk •单击go! 3U"') •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 .k,Jt+ #C1A5JE&
B UQn+;be 3zTE4pHzu+ 场追迹仿真 Yuo1'gE+ CQjZAv
•切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 :{b6M/ •单击go! afF+*\xXN PIEW \i (#B^Hyz! 9;]wF8h 场追迹仿真(相机探测器)
}d~wDg<# P"9@8aLB •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 { w8
!K •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 7<1fKrN?GF )'!ml
y,v0-o~q 60,-\h 场追迹仿真(电磁场探测器) }-{ b$6] •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 e-iYJ? i6F:C
&. IQw
%|^ Xvu) 场追迹仿真(电磁场探测器) <,@H;|mZ <DXmZ1 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 "VDk1YX_&l 1]>$5 1Q
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