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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-07-24
    摘要 R?~h7 d  
    ~x"79=!W  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ~!F4JRf  
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    建模任务 s@LNQ|'kO  
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    %*c|[7Z~V  
    概述 y32++b!  
    >Ryss@o  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 N"RYM~c7  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 2^#UO=ct  
    d5"EvT  
    aiZo{j<6  
    NJf(,Mr*|  
    光线追迹仿真 <-:@} |br  
    #S%Y; ilq  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 *X l<aNNx  
    •单击go! p <=%  
    •获得了3D光线追迹结果。 !u { "] T:  
    \41)0,sEy  
    J.mewD!%z  
    Z3So|M{v  
    光线追迹仿真 prEu9$:t  
    N@*wi"Q  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Tj21YK.mk  
    •单击go! 3U"')  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 .k,Jt+  
    #C1A5JE&  
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    3zTE4pHzu+  
    场追迹仿真 Yuo1'gE+  
    CQjZAv  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 :{b6M/  
    •单击go! afF+*\xXN  
    PIEW\i  
    (#B^Hyz!  
    9;]wF8h  
    场追迹仿真(相机探测器) }d~wDg<#  
    P"9@8aLB  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 { w8 !K  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 7<1fKrN?GF  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) }-{b$6]  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 e-iYJ?  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) <,@H;|mZ  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 "VDk1YX_&l  
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