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摘要 H1L)9oa ;\6@s3 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 \13Q >iAu S=.%aB
:zq Un&k& `(`-S
md 建模任务 |K;9b-\ "I:* Bg[yn<)
] 概述 aG#d41O e$WAf`* •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 !8T04988j •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 J/E''* 3$q#^UvD
Ge=^q. J~4mp\4b 光线追迹仿真 `LLmdm 6i 2+DK:T[ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 >)='.aR< •单击go! m.
p'LF •获得了3D光线追迹结果。 CTKw2`5u 7SH3k=x
2boyBz}=S Z 4i5,f 光线追迹仿真 FG+pR8aA$ %&VI-7+K •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 8~t8^eBg
•单击go! l2YClK •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 1?^
P=^8 je2"D7D
Eu~1t& 4 bZ:+q1
D 场追迹仿真 P0(LdZH6u Y?7GFkIP$ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 K(PSGlI f •单击go! m;hp1VO) 4X7J~ V|B4lGS& +se OoTKR 场追迹仿真(相机探测器) MUv#8{+F'/ tP*GYWI48 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 VF";p^ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 !.q99DB `''y,{Fs
ti6X=@ P: [>pBz3fn, 场追迹仿真(电磁场探测器) mDZA\P_ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 hY%} x5ntU (~{Y}n]s k'N``. J?X{NARt 场追迹仿真(电磁场探测器) febn?|@ 2gkN\w6zQ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 j$XaO%y) <%%)C>l
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