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摘要
77@N79lqO 1Z}5ykM3 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 *DPX4P BTkx}KK
b)I-do+ '0D$C},^|8 建模任务 E%`J=C} Bz ;r<Kn W'@|ob 概述 r"dIB@ ZIx-mC5 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 gyvrQ, u •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ,R[$S"]!SH V.*TOU{{xh
-$Z1X_~;)< t neTOj 光线追迹仿真 L0wT :x* &!8 WRJ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 J9mK9{#q •单击go! L0g+RohW •获得了3D光线追迹结果。 Bg~]u+c* uE's&H
^j\LB23 x?wvS]EBg 光线追迹仿真 z By%=)` 1q7&WG •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 cdMSC7l! •单击go! aRMlE*yW •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 \(\a= LE8<JMB
p1KhI;^ L)JB^cxf 场追迹仿真 G WIsT\J fB$a)~ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
~71U s •单击go! eS8(HI6{^ _N`.1Dl%Q 4zMvHe m# {'9 | 场追迹仿真(相机探测器) U?0|2hR~ sq'm)g •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 MRLiiIrq,5 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 cI2Ps3~"Q +KTfGwKt
*$eH3nn6g <Q|\mUS6 场追迹仿真(电磁场探测器) c u/"=]D •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 DsHF9Mn s%D%c;.| P =X]'m_B tRoSq;VrS 场追迹仿真(电磁场探测器) d {!P
c< KR?;7*qF •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 eGEwXza 4 W3.[d->X
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