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摘要 /*O,T aXJe"IT.u 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 (;j7{( UA8!?r-cR
=0)^![y]v u=l(W(9= 建模任务 y^A$bTQq L,D>E i@J,u 概述 P&tK}Se^V H\k5B_3OU •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 4AM*KI •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ``<1Lo@ c~'kW`sNV
J9 =gv0 @
tIB'|O 光线追迹仿真 E nvs[YZe /)I9+s#q9o •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 0l=}v%D •单击go! W$JA4O>b •获得了3D光线追迹结果。 fEjW7 c kUUq9me&o
~ tLR _5T7A><q< 光线追迹仿真 HIq1/) *mQit/k. •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 qj6`nbZ{va •单击go! xB(:d'1| •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 4B]61|A 5G<CDgl^!
]1&9~TL S0+zq< 场追迹仿真 `0^i
# Vi#im`@ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 YP<]f>SBt •单击go! cWc)sb T,uIA] DH
!Br V8yX7yx 场追迹仿真(相机探测器) JC"K{V{ X6.O; •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ElXe=5L\# •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 AuTplO0_rE MI(i%$R-A
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j>*SJtq7 场追迹仿真(电磁场探测器) GX)QIe~;qJ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ge?-^s4M @S7=6RKa[ HzV+g/8>A #0u69 场追迹仿真(电磁场探测器) SSLshY~d d&bc>Vt •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 UWp8I)p!\O z,|%?
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