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摘要 fc^d3wH0L "2
qivJ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 E`q)vk d?[8VfAnh
o|1_I?_ 9!Bz)dJ3 建模任务 :W[d&e %bB:I1V\ *5" )3\/ 概述 qc/)l~]?g{ <xD6}h/ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 <OGXKv@ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 97^)B4 \~:_h#bW
VBg
M7d Gr|102 光线追迹仿真 j'LO'&sQ( zRA,Yi4;+ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 6M6r&,yRu •单击go! 6$5SS# •获得了3D光线追迹结果。 %xN91j[" o+T, O+i
0PJ7o#}_{@ jY$3 光线追迹仿真 K]>X31Ho n{z!L-x^b •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 K;~I;G
•单击go! tZN'OoZ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 9y*pn|A[F ?[hkh8|
Y'x+!&H 6V @ [<d 场追迹仿真
+`~kt4W l\t<_p/I)^ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 iR{*XE
•单击go! 6iJ\7 w*IDL0# B&z~}lL lm(k[]@ 场追迹仿真(相机探测器) 9Z. WR-} z5IdYF? •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 w7Vl,pN, •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 u\ }"l2 r j%Z%_{6Ds*
!WQ S.& aF:|MTC(~ 场追迹仿真(电磁场探测器) u|M_O5^ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 S0p[Kt p7]V1w : z-;{pPZ 4
JDk() 场追迹仿真(电磁场探测器) *ta?7uSiT P~ODd( •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 f]]UNS$AYQ @LR :^>&*
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