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摘要 ]`MRH[{ AIE)q]'Q 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 eC1cE ua0k)4|
O6`@'N>6P .G^.kg , 建模任务 s~GO-v7 x>t:&Y M _+UD>u{ 概述 nI6`/ F
Hv|6zUX •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Tj>~#~ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 lVqvS/_k$ 6Up,B=sX0
~<|xS
2qN6{+] 光线追迹仿真 yXDf;`J $
@^n3ZQ4 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 p<$z!|7m •单击go! N &=,)d~M •获得了3D光线追迹结果。 #fa~^]EM] wZ*m
A }dl@ I@[.W!w 光线追迹仿真 #j@Su )+ dL v\H& •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ; LTc4t •单击go! C[~b6UP •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 W$,c]/u|
pO"V9[p]
5^tL# 27;*6/>, 场追迹仿真 S9mj/GpL3 5HmX-+XpK •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 TVKuvKH8U •单击go! a?@j`@]ZR~ 8on2BC2 c,e
0+ 0e3aWn 场追迹仿真(相机探测器) G:f]z;Xdp aN.Phn: •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Al
0zL •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 h4ZrD:D0\ aWW|.#L
A`IE8@&Z' I,.>tC 场追迹仿真(电磁场探测器) C7,Ol0`v •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 n;4`IK| AOeptv^k3} 7j{SCE; 'kPShZS$b 场追迹仿真(电磁场探测器) DaaLRMQ= ^cd+W? •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 GtbIw 8{@#N:SY
OZ0q6"
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