[技术]全场光学相干扫描干涉仪 [复制链接]

摘要 9V@V6TvW>&  
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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性，仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此，它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中，氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 JJ2_hVU  
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建模任务 %Iv,@}kvT+  
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仿真干涉条纹 {rH@gz|@i  
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•设置输入场 B43HNs  
−基本光源模型[教程视频] P.;aMRMR  
•使用导入的数据自定义表面轮廓 {kCw+eXn?  
•定义元件的位置和方向 pg.ri64H<  
− LPD II：位置和方向[教程视频] J|kR5'?x  
•正确设置通道以进行非序列追迹 o(LFh[  
−非序列追迹的通道设置[用例] ,p2s:&"  
•使用参数运行检查影响/变化 bg&zo;Ck8T  
−参数运行文档的使用[用例] >x+6{^}Q>  
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