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    [技术]全场光学相干扫描干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-07-22
    摘要 0*/kGvw`i  
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    扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 RB [/q:  
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    •使用导入的数据自定义表面轮廓 TdFT];:  
    •定义元件的位置和方向 P 6.!3%y  
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    •正确设置通道以进行非序列追迹 wx*1*KZ  
    −非序列追迹的通道设置[用例] >'b=YlUL  
    •使用参数运行检查影响/变化 )S*1C@  
    −参数运行文档的使用[用例] {~_ Y _-  
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    VirtualLab Fusion技术 t"|DWC*  
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