[技术]全场光学相干扫描干涉仪 [复制链接]

摘要 gl_^V&c  
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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性，仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此，它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中，氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 :#~j:C|  
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建模任务 ',4iFuY  
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仿真干涉条纹 9?3&?i2-  
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走进VirtualLab Fusion uc"P3,M  
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VirtualLab Fusion中的工作流程 AZ}Xj>=  
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•设置输入场 ")HFYqP>9  
−基本光源模型[教程视频] E1U",CMU  
•使用导入的数据自定义表面轮廓 R+,u^;\  
•定义元件的位置和方向  {s{j~M  
− LPD II：位置和方向[教程视频] QZ%`/\(!8_  
•正确设置通道以进行非序列追迹 NL0n009"c$  
−非序列追迹的通道设置[用例] 'anG:=  
•使用参数运行检查影响/变化 4vV:EF-  
−参数运行文档的使用[用例] om-omo&,X=  
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VirtualLab Fusion技术 \A6B,|@  
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