[技术]全场光学相干扫描干涉仪 [复制链接]

摘要 4Lh!8g=/  
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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性，仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此，它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中，氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 6]_pIf  
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建模任务 ,o{9$H5{  
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仿真干涉条纹 (GuzN  
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•设置输入场 t#/YN.@r  
−基本光源模型[教程视频] a %'the  
•使用导入的数据自定义表面轮廓 u\x}8pn  
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−非序列追迹的通道设置[用例] mpEK (p  
•使用参数运行检查影响/变化  $s c  
−参数运行文档的使用[用例] <#y[gTJ<'>  
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