切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 774阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    7180
    光币
    30041
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-07-18
    摘要 DSad[>Uj],  
    (1gfb*L  
     IQxY]0\uf6  
    ECqcK~h#E  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 !VU[=~  
      UN[rW0*  
    建模任务 SU9qF73Y  
    o:jLM7$=  
     F)g.CDQ!c  
    k !Nl#.j  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 Fp..Sjh 6  
    @V:4tG.<sw  
     }Wjb0V  
    .^8 x>~  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 i]!CH2\  
    _3-nw  
     o%X@Bz  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表