-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-08-04
- 在线时间1821小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 rX)_!mR \!%~(FM
90ov[|MkM }%^ 3 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 1Ve~P"w P0k.\ 8qz 建模任务 BJ5^-| d@tNlFfS
z(#dL>d$' :b!&Xw$ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 c4s,T"H ZmJ<FF4
M'T[L%AP 9! yDZ<s 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 =c%gV]>G m6Qm }""
iRM ?_|
|