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摘要 &drFQ| Mv|!2 [:
IXq(jhm8bL (bm;*2 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 N|dD! ]gP5f @` 建模任务 "H+,E_&( 4hAJ!7[A.
x';uCKWV o`? zF+M0 由于组件倾斜引起的干涉条纹 wNDbHR jk70u[\
7"Mk+' J YmAn?o- 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 y4jU{, +^ yq;z
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