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摘要 7m%12=Im5 8,F|*YA
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. 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 : &nF> iDcYyNE 建模任务 Qe!3ae`Z t>a D;|Y
0)zJG | OVxg9 由于组件倾斜引起的干涉条纹 Xe:rPxZf~ <5Ll<0
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