-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-06-18
- 在线时间1790小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 g:MpN^l *Got
/C29^ P GkjTE2I3 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 )`]w\s
# 8Z%C7
"4O 建模任务 CN0&uyu#4 UX=JWb_uGm
\3w=')({ hRZ9[F[[ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ?1 $.^ g]O"l?xx1D
Kl~jcq&z s<x2*yVUA 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 n\aG@X%oq {zhN>n_
CZg$I&x
|