切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 776阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7180
    光币
    30041
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-07-18
    摘要 Xcy Xju#"p  
    Xf"B\%,(`  
    M<%g)jn_  
    t&oNC6  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 fFSQLtm?E  
    h&k*i  
    建模任务 (59u<F  
    n/&}|998?  
    vg.K-"yQW  
    mBQp#-1\  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 ?}n\&|+  
    5LkpfmR  
    .!B>pp(9  
    R9!GDKts%  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 >k)zd-  
    <Rno ;  
    2qN|<S&  
     
    分享到