切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 474阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    6511
    光币
    26700
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-07-18
    摘要 V%y kHo  
    A1%V<im@Z  
    TmX~vZ  
    LC[, K  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 a%(1#2^`q!  
    x 6,S#p  
    建模任务 p$[*GXR4  
    qg.[M*  
    r7ywK9UL  
    *i%!j/QDAP  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 .#j)YG  
    -zc9=n<5  
    s o~p+]  
    "-<u.$fE  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 |[o2S90  
    fhfdNmtR)I  
    tMyD^jVC  
     
    分享到