-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-01-08
- 在线时间1913小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 V%ykHo A1%V<im@Z
TmX~vZ LC[,K 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 a%(1#2^`q! x6,S#p 建模任务 p$ [*GXR4 qg.[M*
r7ywK9UL *i%!j/QDAP 由于组件倾斜引起的干涉条纹 .# j)YG -zc9=n<5
s o~p+] "-<u.$fE 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 |[o2S9 0 fhfdNmtR)I
tMyD^jVC
|