切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 404阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6243
    光币
    25360
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-07-18
    摘要 O ,l\e 3;  
    yxqTm%?y  
     A8J?A#R*{q  
    5@K\c6   
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 X z8$Xz,O  
     4 uShM0qa  
    建模任务 aWdUuid  
    k9cK b f@  
     6s'[{Ov  
    [S%J*sz~  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 &.hoC Po$  
    &/HoSj>HS  
     'wa g |-  
    *`%4loW  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 <Uf|PFVj$  
    dZF8 R  
     9-B@GFB;8  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表