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摘要 '0')6zW5s 8@yc}~8 *
8V|jL?a~ _:X|R#d 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 8;g.3Qv I49l2> 建模任务 `JWYPsWk w<~<(5mM5;
'SU9NQS b^,Mw8KsO 由于组件倾斜引起的干涉条纹 @y0bU*v7 m>+,^`0
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