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摘要 #Kr.!uD wdV?&W+ 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ?0%TE\I8 6+z]MT GK%ovK >D#}B1(! 建模任务 E-iBA (H gD=5M\ 6x{IY 概述 a$O]'}]` lhj2u]yU0S •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 e!Okc*, •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 m3-J0D<
"-:\-sMt{ _q4m7C< x@}Fn:c!5 光线追迹仿真 @v=q,A8_ 2H "iN[2A •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 L:Eb(z/D •单击go! y]9UFL" •获得了3D光线追迹结果。 e_-/p`9 mK4|=Q ~]M" r/2:O92E 光线追迹仿真 @/FX7O{n: @NE#P&f •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 V~Lq,oth •单击go! ~ }22 Dvo •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 .Tv(1HAc2l (=/;rJ`q =fo/+m5 6Qu*' 场追迹仿真 &Z!2xfQy> Fo~v.+^? •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ^W'[l al. •单击go! ]L^M7SKE6 %T\x~) F
k;su,]_ }C.{+U 场追迹仿真(相机探测器) }}1Q<puM NkI: •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 7bS[\5 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 |9eY
R ^ni_%`Ag (=rv `1 J}CK|} 场追迹仿真(电磁场探测器) B,,d~\ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 YYW70k: *rT(dp!Y Bnq\Gg +~O{
UGB= 场追迹仿真(电磁场探测器) F\bI6gj xS1|Z|& •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 s#ZH.z@J RC%r7K f 9zd/5|W
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