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摘要 VKa- N_jCx*.G 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ]s
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^Pc>/lY$Q% .f'iod- 建模任务 [.e
Y xZ{= 2Z]<MiAx D @ucN|r}=R 概述 RZykwD(
.*H0{ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 yK"OZ2Mv •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 M,Y lhL U].u) g$
o6e6Jw 5[WhjTo 光线追迹仿真 B7Um G)C )]2yTG[ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 G>hmVd •单击go! 5BKmp-m •获得了3D光线追迹结果。 [,_M@g3 gIA{6,A
K`PmWxNPh Ov{fO 光线追迹仿真 v2<roG6.V g%w@v$ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 (]BZ8GOx •单击go! \6B,\l]$t@ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 qlUYu"`i Qi^MfHW
w;$@ </ +4emkDTdR 场追迹仿真 DI=Nqa)r
z"BV+ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 4%WV)lt •单击go! dG{`Jk H3 _7a 9 .rj FhSr$ OT7F#:2` 场追迹仿真(相机探测器) (^g?/i1@d JWG7QH •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 #)%N+Odnr •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 o a,Ju v>Il#
9/w'4bd <p(&8P 场追迹仿真(电磁场探测器) D%LM"p •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 "fLGXbNQ )61CrQiY zTY|Z@: {xt<`_R 场追迹仿真(电磁场探测器) XKp %7; A"Rzn1/ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 I=hgfo ovCk:Vz
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