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摘要 \|t0~sRwh csM|VNE> 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 t5APD?5 c 11T\2&Q
FlG^'UD I}v#r8'! 建模任务 QX=;,tr )It4al^\ t>sX.=\$ 概述 sZB6zTX
J "6.p=te •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 SkA'+( •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 $?-o }_22wjm~
`VE&Obp[ 5;
[|k$ v 光线追迹仿真 IR8&4qOs Y]K]]Ehp •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 an`(?6d •单击go! 1n(}Q1fa •获得了3D光线追迹结果。 #jx?uS DOIWhd5:
wT=hO+ @e0skc 光线追迹仿真 2H+DT-hK \87J~K' •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 I?g__u=n~ •单击go! MEnHC'nI •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ZC*d^n]x. faOWhIG
[5*-V^m2 U(=9&c@] 场追迹仿真 }C"*ACjF C(HmLEB^ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 97wy;'J[u •单击go! G)Bq?=P
k1U8wdoT J8BT% o=#
[^Zv 场追迹仿真(相机探测器) i!oj&& F'$S!K58 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ;6txTcn`= •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 \g1@A" Q9xx/tUW
~o'#AP#N~ _xgVuJ 场追迹仿真(电磁场探测器) PbHh?iH •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 *F*jA$aY WriN]/yD ls7A5 < #]DZrD&q 场追迹仿真(电磁场探测器) {3(.c, q@ 9r+O!kF( •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 [H%?jTQ LZC?383'
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