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摘要 6Y\TVRR HH7WMYoKY 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 :vEfJSA
1< |O>e=HC#q8
#o}/' y7!& 建模任务 cMT:Ij]; }PBL X\H P{$fY_ 概述 8]vut{ RV{%@1Pu •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 fgj$
u •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 B=n90XO | r^msJ|k8[
nj;3U^ Z8ivw\|M8 光线追迹仿真 A g+B* eHs38X •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 <+q`Dk •单击go! NrXIaN •获得了3D光线追迹结果。 gfIS c u";rnj
Da8gOZ wzxV)1jT 光线追迹仿真 6la'\l# N;-%:nC •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 J
%A= •单击go! )7+z/y+[n •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2(~Zl\ 5RWqHPw+
iZ}c[hC'3` H?Sv6W.~ 场追迹仿真 nu1XT 1q1 t, /8U •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 0nD?X+ u •单击go! \*{Mg wF Bnk<e dwUDhQt3Q pi#a!Quf\ 场追迹仿真(相机探测器) Z+6WG )nj fqg •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 tl~ZuS/ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 YCb|eS^u w[3a^
03zt^< ZD|F"v. 场追迹仿真(电磁场探测器) |X XO0 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 rloxM~7!,) Srmr`[i 1##@'L|u y!x[N!a 场追迹仿真(电磁场探测器) 0$-|Th:o Ev3'EA~` •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 svxjad@l/
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