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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-14
    摘要 NTb mI$(  
    HIsIW%B  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ;wK;  
    A<fKO <d  
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    建模任务 ?x1sm"]p'  
    ;h<(vc3@f  
    (~q.YJ'  
    概述 LmWZ43Z"@  
    qIS9.AL  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 duFVh8  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 lqe|1vN  
    `u$  Rd  
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    &&T\PspM  
    光线追迹仿真 Z}#'.y\ f  
    CT1@J-np  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 1y'8bt~7Pf  
    •单击go! `?E|frz[  
    •获得了3D光线追迹结果。 >Q3_-yY+  
    d9e_slx  
    QxS] 6hA  
    =z^ 2KH  
    光线追迹仿真 #{K}o}  
    VzD LGLH  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Oy EOb>  
    •单击go! .j^tFvN~L  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 |y1O M  
    !l NCuR/T  
    M$_E:u&D  
    7.)kG}q]  
    场追迹仿真 %hDx UZ#0  
    uDD{O~wF,  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ~&HP }Q$#f  
    •单击go! mxD]`F  
    [x{z}rYH  
    ^Gi9&fS,  
    q8A;%.ZLG  
    场追迹仿真(相机探测器) *$e1Bv6 $  
    Db4(E*/pj!  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 O|K-UTWH%  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 =z >d GIT1  
    `A\,$(q+  
    ]2E#P.-!b  
    %#t*3[  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ?vt#M^Q   
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 f/xQy}4+~E  
    gGZ-B<  
    M>qqe!c*  
    mrmm@?  
    场追迹仿真(电磁场探测器) B(|*u  
    >0F)^W?  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 CP0;<}k  
    /U$5'BoS  
    J.;!l   
     
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