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摘要 NTbmI$( HIsIW%B 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ;wK; A<fKO <d
<2"' R(4", opU=49b 建模任务 ?x1sm"]p' ;h<(vc3@f (~q.YJ' 概述 LmWZ43Z"@ qIS9.AL •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 duFVh8 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 lqe|1vN `u$
Rd
b"Hc==` &&T\PspM 光线追迹仿真 Z}#'.y\ f CT1@J-np •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 1y'8bt~7Pf •单击go! `?E|frz[ •获得了3D光线追迹结果。 >Q3_-yY+ d9e_slx
QxS]6hA =z^2KH 光线追迹仿真 #{K}o} VzD LG LH •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Oy
EOb> •单击go! .j^tFvN~L •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 |y1O M !l NCuR/T
M$_E:u&D 7.)kG}q] 场追迹仿真 %hDx UZ#0 uDD{O~wF, •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ~&HP}Q$#f •单击go! mxD]`F [x{z}rYH ^Gi9&fS, q8A ;%.ZLG 场追迹仿真(相机探测器) *$e1Bv6
$ Db4(E*/pj! •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 O|K-UTWH% •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 =z>d GIT1 `A\,$(q+
]2E#P.-!b %#t*3[ 场追迹仿真(电磁场探测器) ?vt#M^Q
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 f/xQy}4+~E gGZ-B< M>qqe! c* mrmm@? 场追迹仿真(电磁场探测器) B(|*u >0F)^W? •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 CP0;<}k /U$5'BoS
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