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摘要 m9 D'yXZ 6Us*zKgW 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 d@e2+3< +X|^
~)tMJ
IT=<p60" n,8bQP=& 建模任务 n>\2_$uDI = &"x6F.` 9HBRWh6 概述 vj hh4$k &^1{x`Qo= •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ~zph,bk •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 \zM3{{mV/ 9L9qLF5 t
^< wn x#c%+ 光线追迹仿真 lXOT>$qR< UNJAfr P •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 =]m,7 v Rq •单击go! c4Wl^E8 •获得了3D光线追迹结果。
GW\66$| z6x`O-\
&"'Z)iWm SBh"^q 光线追迹仿真 28x:]5=jb Z)'gj •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 P]%)c6Uh •单击go! UWo*%&J •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 pi;'! d[l% ,4H/>yPw
>vKOG@I )zK@@E 场追迹仿真 lFZl}x A5?q&VS}p •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 (C.<H6]= •单击go! "X,*VQl: l?)!^}Qc OAo;vC:^ L25%KGg'o 场追迹仿真(相机探测器) uZe"M(3r$ j06qr\Es •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 \dJOZ2J<z •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Nk;ywC"e; TXo`P_SE
1\ Gxk& 3nnoXc' 场追迹仿真(电磁场探测器) SW)jDy •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 SZ1yy[" NOFuX9/'w t W}"PKv \>[k0< 场追迹仿真(电磁场探测器) %U6A"?To Z -fiJ75 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 WS//0 7#(0GZN9h%
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