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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-14
    摘要 m9 D' yXZ  
    6Us*zKgW  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 d@e2+3<  
    +X|^ ~)tMJ  
    IT=<p60"  
    n,8bQP=&  
    建模任务 n>\2_$uDI  
    =&"x6F.`  
    9HBRWh6  
    概述 vj hh4$k  
    &^1{x`Qo=  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ~zph,bk  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 \zM3{{mV/  
    9L9qLF5 t  
    ^< wn  
    x#c%+  
    光线追迹仿真 lXOT>$qR<  
    UNJAfr P  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 =]m,7v Rq  
    •单击go! c 4Wl^E 8  
    •获得了3D光线追迹结果。 GW\66$|  
    z6x`O-\  
    &"'Z)iWm  
    SBh"^q  
    光线追迹仿真 28x:]5=jb  
    Z )'gj  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 P]%)c6Uh  
    •单击go! UWo*%&J  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 pi;'!d[l%  
    ,4H/>yPw  
    >vKOG@I  
    )zK@@E  
    场追迹仿真 lFZl}x  
    A5?q&VS}p  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 (C.<H6]=  
    •单击go! "X,*VQl:  
    l?)!^}Qc  
    OAo;vC:^  
    L25%KGg' o  
    场追迹仿真(相机探测器) uZe"M(3r$  
    j06qr\Es  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 \dJOZ2J<z  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Nk;ywC"e;  
    TXo`P_SE  
    1\ Gxk&  
    3 nnoXc'  
    场追迹仿真(电磁场探测器) SW)jDy  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 SZ1yy["  
    NOFuX9/'w  
    t W}"PKv  
    \>[k0<  
    场追迹仿真(电磁场探测器) %U6A"?To  
    Z -fiJ75  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 WS//0  
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