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摘要 nU%rSASu 4W}8?&T 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 x,
a[ p\1 9ET2uDZpL
\^SL Zhe Y>Q9?>}Q 建模任务 Rj9ME,u =UA-&x@ {'G@- +K 概述 `7}6 .z7XYmv •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 `ysPEwA| •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 =K{$?%"
$ t_s7
K,%H*1YKK (:].?o 光线追迹仿真 vG#|CO9 ]"q[hF*PM •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ~;#J&V@D •单击go! z~+_sTu •获得了3D光线追迹结果。 UZMo(rG.]{ EaFd1
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o-: %k{~Fa 光线追迹仿真 g"(
vl-Uw _WtX8 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 DzO0V"+H}k •单击go! Xj"/6|X •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 enlk)_btp V=k!&xN~
U2/H,D -N^}1^gA 场追迹仿真 8qp!S1Qnv (qlIQC •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ~-lIOQ.v •单击go! ST)l0c+Y> z|F>+6l"Y7 S20x qqQnL[`)C 场追迹仿真(相机探测器) Fp+^`;j v<_}Br2I[ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 UP 1Y3 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 &D[dDUdHs a+szA};
!Zgb|e8< ?cCh?>h 场追迹仿真(电磁场探测器) ?c"No|@+ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Crh5^? gWqmK/.U.0 26>e0hBh& JM -Tp!C> 场追迹仿真(电磁场探测器) 7!hL(k[ c)#b*k,lw< •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 M:6H%6eT yfiRMN"2
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