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摘要 7g_]mG[6 p,"g+ MwP
utr:J =*Bl|;>6 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 *2jK#9"MP w6j/ Dq! 建模任务 s&j-\bOic9 @B}aN@!/
>rvQw63\ rx}r~0i 由于组件倾斜引起的干涉条纹 .`&F>o(A ~K@'+5Pc
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