-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-11-02
- 在线时间1996小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要
1 pzd 2LN5}[12]
,wra f#UdP 6? (8KsaN 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 6~+?DIc 4gm(gY>[ 建模任务
XN'X&J |B*`%7{+
*r3u=oWb |Oaj
Jux 由于组件倾斜引起的干涉条纹 u`X}AKC W/R-~C e
yIThzyS `!T6#6h 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 KWV{wW=- q}R"
}oTac ">RDa<H]
|