切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 531阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    6515
    光币
    26724
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-05-10
    摘要 PRwu  
     \dTQQ  
    V}SyD(8~  
    ) \ 4 |  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 l DnMjK\M  
    gH'_ymT= 3  
    建模任务 UQ~4c,  
    s@s/ '^`  
    P_}/#N{C  
    )tD6=Iz^5  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 U. (Tl>K|0  
    Mn@$;\:  
    r4?b0&Xq  
    e />:K' {  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ]~8v^A7u  
    &n|*uLn  
    ec?V[v  
    T(V8; !  
     
    分享到