-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-01-12
- 在线时间1913小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 PRwu \dTQQ
V}SyD(8~ ) \4
| 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 l
DnMjK\M gH'_ymT=
3 建模任务 UQ~4c, s@s/'^`
P_}/#N{C )tD6=Iz^5 由于组件倾斜引起的干涉条纹 U. (Tl>K|0 Mn@$;\:
r4?b0&Xq e/>:K' { 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ]~8v^A7u &n|*uLn
ec?V[v
T(V8;!
|