-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-09-29
- 在线时间1866小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 GxBj N7" %V$^CWOy
&CS= *)>$ te`4*t 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Lczcz"t N.fIg 建模任务 S+He f"[C3o2P
(Lc%G~{ cD 1p5U 由于组件倾斜引起的干涉条纹 u+]zi"k^s , v R4x:W
Aam2Y,B -v]7}[
.[ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 wBr0s*1I 4|~o<t8
:5dq<>~ F:n7yey
|