切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 626阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6794
    光币
    28119
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-10
    摘要 Eu2@%2}P  
    /3{jeU.k  
     edD19A  
    p@0Va  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ]hRCB=G  
     !/2u O5  
    建模任务 B*W)e$  
    :+06M@  
     UU~S{!*+L  
    EVX*YGxx6  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 6B'd]Fe  
    9l<f?OzAO  
     >|IUjv2L  
    Pv@Lx+ k  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 {B+|",O5)  
    <A"[Wk  
     "k&QS@l  
    m`_s_#  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表