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摘要 ~)>.%`v& OpU9:^r
]q[(z w9RBT(u 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 4}cxSl]jf! _s5FYb# 建模任务 $UK m[:7 7r)]9_[(
p1i}fGS ^;( dF<?'r 由于组件倾斜引起的干涉条纹 -e_TJA fkX86
0kls/^ 0, x>BFK@# 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 }Y!s:w# .m>Qlh
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