切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 412阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    5937
    光币
    23838
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-10
    摘要 ]!n*V/g  
    B.h0" vJ  
     $_4oN(WSz  
    KteZK.+#:  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 DMy4"2 o  
     :_W 0Af09  
    建模任务 ,{#RrF e  
    d,Im&j_Z  
     8#[%?}tK  
    f(EYx)gZ  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 B^E2UNRA  
    {s9y@c*15.  
     -MVNXAKnZ  
    \c5#\1<  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 )Mm;9UA  
    >\^N\&  
     PM#$H  
    ,U} 5  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表