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    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-10
    摘要 JC(rSs*  
    ^rfY9qMJr8  
    ~.u}v~ F  
    A`T VV  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 9AD`,]b  
    ,3.E]_3 xX  
    建模任务 TUIj-HSe  
    K19/M1~  
    nW3-)Q89  
    ^ ~:f02[D  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 hF s:9  
    NKvBNf|D  
    ~YA* RCe  
    /1F%w8Iqh  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 l9lBhltOH  
    }=z_3JfO  
    'C8VD+p  
    K]Q#B|_T  
     
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