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摘要 oouhP1py, J!\Cs1!f
_nUvDdEs, !t;B.[U * 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 buj*L& *#n#J[ 建模任务 (BT{\|,V_m %@,%A_So k
&c AFKYt Th'B5:` 由于组件倾斜引起的干涉条纹 $D][_ I q PveG1+25
qUSy0SQ/l yQ [n7du 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 T)Uhp
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