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摘要 h z{-- -!O8V
yjH'< jm@M"b'{ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 t u{~:Z( zUZET'Bm9 建模任务 Kg2Du'WQ^ QjG/H0*mP
F4WX$;1 JtxVF!v 由于组件倾斜引起的干涉条纹
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}1~9i'o%Z (xVx|:R[<H 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 I"x|U[*B &GJVFr~z
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