切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 488阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6354
    光币
    25915
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-10
    摘要 k$kq|  
    q@;WXHO0  
    ~/1kCZB  
    8}Rwf?B  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Z!=/[,b  
    Z"Z&X0O j  
    建模任务 r AMnM>`  
    9 m&"x/k  
    Acr\2!))  
    9,Zg'4",d  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 x P{L%.  
    <uNBsYMuC  
    `Bx3grZ 7&  
    ug[|'tR8  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 #*q`/O5n  
    /_v5B>  
    CF9a~^+%  
    3 D,PbAd  
     
    分享到