-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-08-12
- 在线时间1828小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 DS>qth Pskg68W
0|OmQ\SQ {GKq Ou 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 8\9s,W:5 2R`/Oox 建模任务 .>+jtp} x
L]Z3"p%
vw/X dx[kG 由于组件倾斜引起的干涉条纹 U=>4=gsG zR6^rq*
{,
zg ="AJ&BqHd 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 X.hVMX2B TI^M9;b
Q0-}!5`E1$ mIkc+X
|