切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 369阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5801
    光币
    23157
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-10
    摘要 "TS  
    Bs ;|D  
    p$E8Bn%[  
    lfN~A"X  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 o "z@&G" ^  
    &miexSNeF  
    建模任务 Uf\nFB? ^  
    j&R+2%  
    o<i,*y88  
    9 QC.TG@  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 d3;qsUh$yv  
    \qh *E#j  
    sEc;!L  
    M*eJ JY  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 h 8e757z  
     #^#HuDH  
    S9| a$3K'  
    ANi)q$:{  
     
    分享到