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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-04-11
    摘要 ^~%z Plv  
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 tkGJ!aUt  
    \aG:l.IM0  
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    ij=}3;L_!  
    建模任务 i%)Nn^a;T  
    v/yt C/WH"  
    Hc{0O7  
    概述 h .Iscr^~  
    ?"[h P=3J  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 yy6?16@  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ard<T}|N  
    ]}&f<X  
    Sy<s/x^`  
    s~(iB{-  
    光线追迹仿真 Ya)s_Zr7  
    8Dq;QH}  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 2nRL;[L*.  
    •单击go! EO5k?k[*  
    •获得了3D光线追迹结果。 v*7lJNN.  
    e/;chMCq  
    Gq/f|43}@O  
    n8eR?'4  
    光线追迹仿真 'B>%5'SdD  
    Z) zWfv}  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 cR1dGNcp/@  
    •单击go! 6h|@Bz/A  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 }bVWV0Aeim  
    +89s+4Jn  
    xED`8PCfu  
    zW_V)U Ne  
    场追迹仿真 I%NPc4p  
    ,HxsU,xiG  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 #w4= kWJ[  
    •单击go! >k?/'R  
    btK| U  
    H3"[zg9L:a  
    G w$sL&1m\  
    场追迹仿真(相机探测器) y4HOKJxI  
    zOpl#%"  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 6N&S3<c4JO  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 RrkS!E[C  
    `A)9   
    #cBt@SEL'  
    >69+e+|I  
    场追迹仿真(电磁场探测器) lGI5  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 o?f7_8fG  
    uw@z1'D[i"  
    fa#]G^f  
    }TZ5/zn.Dw  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 7 N?x29  
    Oph4&Ip[w  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 L)'JkX J  
    )*I=>v.Jq  
     
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