摘要
^~%zPlv d^.fB+)A3 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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wFJ?u?b0Q ij=}3;L_! 建模任务
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Hc{0O7 概述
h .Iscr^~ ?"[h P=3J •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
yy6?16@ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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Sy<s/x^` s~(iB{- 光线追迹仿真
Ya)s_Zr7 8Dq;QH} •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
2 nRL;[L*. •单击go!
EO5k?k[* •获得了3D光线追迹结果。
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Gq/f|43}@O n8 eR?'4 光线追迹仿真
'B>%5'SdD Z)zWfv} •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
cR1dGNcp/@ •单击go!
6h|@Bz/A •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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xED`8PCfu zW_V)UNe 场追迹仿真
I%NPc4p ,HxsU,xiG •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
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H3"[zg9L:a Gw$sL&1m\ 场追迹仿真(相机探测器)
y4HOKJxI zOpl#%" •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
6N&S3<c4JO •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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#cBt@SEL' >69+e+|I 场追迹仿真(电磁场探测器)
lGI5 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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fa#]G^f }TZ5/zn.Dw 场追迹仿真(电磁场探测器)
7 N?x29 Oph4&Ip[w •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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