摘要
Xj^6ZJc :GC<U|p 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
'Y+AU#1~H Wh%qvV6] >n@?F[ Y ~UjFL~K} 建模任务
%t0Fx 'kc_OvVA eI?<* 概述
X75>C< {
p {a0*$5 •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
*LeFI% •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
(Q !4\Gy ;YxQo
o> >_U)=q 88}c+V+N! 光线追迹仿真
sk!v!^\_r @EzSosmF •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
@.fuR# •单击go!
zIWw055W •获得了3D光线追迹结果。
GZ\;M6{oh wJJ4F$"b XOO!jnQu vV1F| 光线追迹仿真
]]$s"F< ~$>l@> xX •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
nMD^x •单击go!
SF 61rm •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
k,M%/AXd Pze$QBNoRd IC+Z C w!)B\l^+c 场追迹仿真
9i WDEk EA%(+tJ^0 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
.]%PnJM9K •单击go!
(7x5 L,.Ae
i9 7/NXb aksyr$d0V< 场追迹仿真(相机探测器)
EvIL[\Dy .ps'{rl8 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
Mw@T!)( •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
9@Yk8 tfj6#{M5 -;'8#"{`^ A1@tp/L=o 场追迹仿真(电磁场探测器)
9 )u*IGj •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
QRXsLdf$$ blph&[`}I .&.j?kb ?hvPPEJf 场追迹仿真(电磁场探测器)
%(Sy XZ Wm4@+} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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