摘要
VcR(9~ v"G) G)*z 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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/=4f w@ =U f7 建模任务
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6H}8^'/u 概述
KN9 e"" O*7`Waag •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
q%A.)1<'_ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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h*\/{$y ZJ|'$=lR 光线追迹仿真
'VTLp.~G~ zwJVi9sO •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
ON<X1eU •单击go!
_l;$<]re\k •获得了3D光线追迹结果。
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\zPcnDB +_LWN8F 光线追迹仿真
OwM.N+z#T Cn>RUGoUsI •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
!%4&O •单击go!
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•结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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WMLsKoby i+HHOT 场追迹仿真
" ~&d=f0m mlD 1 o •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
=^LX,!2zp{ •单击go!
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_<i*{;kR6 ^|1)6P}6 场追迹仿真(相机探测器)
.;xt{kK uY6|LTK&x •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
H(TY. •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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B:Xmc,|, nmZJ%n 场追迹仿真(电磁场探测器)
psZAO,p •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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yX= KLn.vA. 场追迹仿真(电磁场探测器)
xiW;Y{kZ a!US:^}lu •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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