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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-04-11
    摘要 VcR(9~  
    v"G)G)*z  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 S`GM#(t@_  
    :HG5{zP  
    j /=4f�  
    w@ =Uf7  
    建模任务 tXnD>H YV  
    "#a,R ^J  
    6H}8^'/u  
    概述 KN9e""  
    O* 7` Waag  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 q%A.)1<'_  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 x(/{]$h  
    9N]V F'  
    h*\/{$y  
    ZJ|'$=lR  
    光线追迹仿真 'VTLp.~G~  
    z wJ Vi9sO  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ON<X1eU  
    •单击go! _l;$<]re\k  
    •获得了3D光线追迹结果。 _lj&}>l  
    !*l5%H  
    \z PcnDB  
    +_LWN8F  
    光线追迹仿真 OwM.N+ z#T  
    Cn>RUGoUsI  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 !%4&O  
    •单击go! ESAFsJ$r;  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 R3=]Av46  
    VDP \E<3"  
    WMLsKoby  
    i+HHOT  
    场追迹仿真 "~&d= f0m  
    mlD 1 o  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 =^LX,!2zp{  
    •单击go! V;#bcr=Z<J  
    7D%}( pX  
    _<i*{;kR6  
    ^|1)6P}6  
    场追迹仿真(相机探测器) .;xt{kK  
    uY6|LTK&x  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 H(TY.  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 CAl]Kpc  
    z_LN*u  
    B:Xmc,|,  
    nmZJ%n  
    场追迹仿真(电磁场探测器) psZAO,p  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9cm9;  
    "2'pS<|  
    +/E yX =  
    KLn.vA.  
    场追迹仿真(电磁场探测器) xiW;Y{kZ  
    a!US:^}lu  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 'sCj|=y2Qc  
    TE.O@:7Z  
     
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