[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

摘要 ;r(hZ%pD  
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。
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建模任务 Wi a%rm  
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概述 bWc3a  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 wc#+Yh
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•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 .j*muDVQn  
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光线追迹仿真 2-G he3  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 h.\V;6ly  
•单击go！ ~udi=J|  
•获得了3D光线追迹结果。 A?l.(qGC_  
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光线追迹仿真 b$/TfpNdo  
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Q;p?.GI?-  
•单击go！ H{*~d+:ol  
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 bLMN9wGOgK  
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场追迹仿真 #
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ka_]s:>+  
•单击go！ )6?(K"T  
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场追迹仿真（相机探测器） FI@!7@  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 [t^Z2a{  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 1+;Z0$edxz  
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场追迹仿真（电磁场探测器） ]^HlI4 z  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ]MjQr0&M  
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场追迹仿真（电磁场探测器） 3Qt-%=b&  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 l4c9.'6  
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