[技术]全场光学相干扫描干涉仪 [复制链接]

摘要 kNd(KQ<.17  
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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性，仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此，它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中，氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 Gk']Ma2J}  
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建模任务 <MyT ;  
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仿真干涉条纹 KvH t`  
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•设置输入场 H+ 7HD|GE  
−基本光源模型[教程视频] J9/EJ'My  
•使用导入的数据自定义表面轮廓 - -\eYVh[  
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•正确设置通道以进行非序列追迹 _;,"!'R`f  
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