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摘要 mRurGaR Mzg zOM
~vb yX 2\4ammwT 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 7I $~E 5n0B`A 建模任务 -$ VP#% ia9=&Hy])
&g.do? @%^JB 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ?lPn{oB9" 7Mj:bm&9
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/Kd9UQU 4@mK:v% 文件信息 ;],Js1m s+-V^{Ht
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