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摘要 pbc<326X" 3msb"|DG
moz*=a <vS3[( 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 4OX|pa 4k%y*L 建模任务 Fq>tl 64A nbd-f6F6
LkvR]^u0 R2K{vs 由于组件倾斜引起的干涉条纹 QAN : +h*-9
F%|F-6 % \N52 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 <KB V F{,<6/ayRz
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#7(?B{i 文件信息 5=cS5q@ Z@sDxYt9
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