切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学系统设计：理论、仿真与系统检测 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 577阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6358
    光币
    25935
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-04-07
    摘要 %t!S 7UD  
    T KAs@X,t  
     ?)k ]Vg.  
    m]fUV8U  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 vp!F6ZwO  
     w3>11bE  
    建模任务 4~FRE)8  
    C^B$_?  
     @b^$h:H  
    7(tsmP  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 _TsN%)m  
    oZ tCx  
     r`EjD}2d  
    39P55B/o%  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 U{[YCs fk  
    Y[}A4`  
     m$v >r\*X  
    i(cKg&+ktd  
    文件信息 }Kp<w,  
    H6j t[  
     9=T;Dxn  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表