切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 54阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    4627
    光币
    17515
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 04-07
    摘要 iaXNf ])?  
    &W fs6g  
    }MY7<sMDOy  
    raY5 nc{  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 4q[C' J  
    E-_)w  
    建模任务 /,$;xt-J35  
    9 Am&G  
    7CYu"+Ea  
    R'qB-v.  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 %1SA!1>j  
    is?`tre\P  
    l5Z=aW Q  
    -h^FSW($-R  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 +`9 ]L]J]4  
    }!\NdQs  
    & S_gNa  
    _CAW D;P  
    文件信息 %]nY v#K  
    B)/X:[  
    >8Zz<S&z  
     
    分享到