切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学设计仿真实验指导 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 659阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6663
    光币
    27464
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-04-07
    摘要 b^Hr zn  
    ~m%[d. }e  
     :d mE/Tq  
    X/]@EF  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 oL4W>b )  
     [+#m THX  
    建模任务 ~/:vr  
    :-&|QVH  
     WxdQ^#AE  
    wak26W>I3  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 <sdgL+&1h  
    _iwG'a[`  
     2FcL-?  
    c,UJ uCZ  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Hg+<GML  
    Q&m85'r5X  
     Re%[t9 F&  
    B|(g?  
    文件信息 ^df wWP  
    PN}+LOD<t  
     8(3(kZxS  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表