-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-09-08
- 在线时间1983小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 Mj~${vj &`PbO
2xmT#m ${e&A^h 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 %\yK5V5 /w~C~6z
@! 建模任务 B+D`\ Nl o 6`"ZsO
MxN]7 d8.ajeN]o 由于组件倾斜引起的干涉条纹 d[U1.SNL XZ@>]P
_5h0@^m7y l%bq2,-% 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 >q &L/N5 Ai jUs*n 2
XaGz].Sv
`GkRmv* 文件信息 kv%)K'fU4 <NL+9l R
R1 qMg+
|