切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 517阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6080
    光币
    24553
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2024-04-07
    摘要 Z5((1J9  
    `wNm%*g  
     GwcI0~5  
    r?fH &u  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 FX H0PK  
     :]vA 2  
    建模任务 T>d\%*Q+B  
    :W~6F*A  
     6ayy[5tW  
    T!MZ+Ph`F  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 xC<=~(  
    $z*@2Non  
     a "R7JjH  
    2zz,(RA  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 H5~1g6b@  
    ZAMeqPt  
     DhZ:#mM{  
    GxxDY]!  
    文件信息 1Fv8T'  
    {S G*  
     d:A}CBTSY  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表