切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 812阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7060
    光币
    29445
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-04-07
    摘要 lN][xnP  
    Npf7p  
    ib""Fv7{  
    &?5{z\;1"  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 t^bdi}[  
    f>"!-3  
    建模任务 h.}t${1ZC  
    GP7) m  
    U`8^N.Snrp  
    I ]WeZ,E  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 [Q.4]K2  
    TJ%]{%F  
    x(/@Pt2B  
    U_ ?elz\  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 KWn1%oGJ  
    #ejw@bd  
    LGo@F;!n  
    "o5gQTwb  
    文件信息 A 4W  
    tci%=3,)  
    ,GXfy9x7U  
     
    分享到