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摘要 I_5[-9 ~?zu5,vb
utU;M* &fe67#0r) 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ^;'FC vd 9_xrw:4 建模任务 Ia j`u p}p}!M|
js;k,` +:3s f%0 由于组件倾斜引起的干涉条纹 )(+q~KA} Y?AvcY.
y<kg;-& 8 sB0m^Y' 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 %m##i 2sYz$ZGC"#
BVG.ZZR}) }poLHS/ 文件信息 4}-G<7* 2$Umqt
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