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摘要 |/;X-+f8 `,)%<}
d?4-"9Y o<!tNOH 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 'E %+ O F"t.ND 建模任务 vp`s< ;CA ^q/_D%]C
+P;&/z8i*g VHx:3G 由于组件倾斜引起的干涉条纹 "M=1Eb$6=
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'))=y@M 3Hkb)Wu 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 h|[oQ8) >+2gAO!
zC_@wMWB X&cm)o%5Fe 文件信息 2q%vd=T Y]H,rO
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