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摘要 *pK bMG# IL;JdIa
l2vIKc ebK/cPa8 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 0tyoH3o/d 2fFZ70Yh 建模任务 ]rGZ G_vWwH4XtL
bnHQvCO3$ qM=
$,s* 由于组件倾斜引起的干涉条纹 +z}O*,M"q h+=xG|1R[5
w.Cw)#N <qJI]P 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 $c"byQ[3S N^</:R
6a6;]lsG 1Tl^mS~k 文件信息 <LL+\kfTZO ko<u0SjF)u
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