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摘要 GGLSmfb) cJ?,\@uuP
Xsn M} :SwA) (1 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 B(FM~TVZ Y1AZ%{^0a 建模任务 uZf
6W<a %c$|.TkX
s 7%iuP REcKfJTj 由于组件倾斜引起的干涉条纹 rkh%[o9"/ 1QhQ#`$<1
sm?b,T/ aox@- jyr 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 zSMM?g^T }"RVUYU
9%R"(X) rT-.'aQ2t 文件信息 9 M?UPE K5<2jl3S
AL&<SxuP
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