切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 853阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    7180
    光币
    30041
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-04-07
    摘要 * w?N{.  
    + +M$#Er&  
     p "n$!ilbm  
    $8 UUzk  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Cs9.&Y  
     W+UfGk}A  
    建模任务 pGJ>O/%  
    D8Ykg >B;&  
     #gz M|  
    n>ULRgiT:o  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 o]yl ;I  
    $c 0h. t  
     l_o@miG/  
    B8f8w)m  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 \fG#7_wt  
    b\yXbyjZ3.  
     &;^YBW:I  
    SxOC1+Oy  
    文件信息 ZCmgs4W!  
    l`oZ) ?ur  
     c 0,0`+2~  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表