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摘要 ,$>Z= ~x* 1OKJE(T
9:>vl0 u^$ CR 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 2
r)c? P7!Sc 建模任务 ~Hf,MLMdTf OduTg^R
WJWrLu92\U IG\\RYr 由于组件倾斜引起的干涉条纹 LGkKR{ep( hB4.tMgZ
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K`sm H+Wd#7l, 文件信息 0ni5 :tYy go@}r< |