-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 Qk&6Z% > Qh#pn*
zZV9`cqZ{ t_qX7P8+' 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 UBx0Z0Y h\8bo= 建模任务 3GZrVhU?m E,[v%Xw
$ccCI
\ UQjZhH 由于组件倾斜引起的干涉条纹 z{qn|#} %i&\X[
^_o:Ddz?l" x^
sTGd 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 UDb Ev&aD
u)l[*";S (-{.T 文件信息 5NMju!/ "mcuF]7F
#twl
|