切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 光学设计与光学元件 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 515阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6080
    光币
    24553
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-04-07
    摘要 /}(d'@8p  
    0(D^NtB7  
     /,I cs  
    1!~cPD'F  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 BzP,Tu{,  
     \A"o[A2v  
    建模任务 -f)fiQ-<  
    ds(?:zx#  
     BVNW1<_:  
    rtRbr_  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 @#)` -]g  
    KLg1(W(  
     _*fNa!@hY  
    ^Tm`motzh  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 $'4 98%K2  
    '6#G$  
     HUi?\4  
    _1p8(n  
    文件信息 ?)xIn)#l s  
    "6$V1B0KW  
     bf"'xn9  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表