-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-06-20
- 在线时间1790小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 u^SXg
dj wy"^a45h
Z3Os9X9p Ce}wgKzr 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 nY"9"R\.= fD#|C~:= 建模任务 &mDKpYrB 7. 9n
e~jw
YImA D`PnY&ffT 由于组件倾斜引起的干涉条纹 l~Je]Qt RekTWIspT/
QN:gSS{30 T1c2J,+}R 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 BL6t> A"FlH:Pn
T;X8T h"cLZM:6 文件信息 "*|plB R:kNAtK
7$x~}*u
|