[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 ~5r=FF6
  
(ve+,H6w\  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 _/,SZ-C#L4  
r"{Is?yKe  
,8c dXt   
Kajkw>z  
1. 案例 p!+L  
(
TEo_BW|+  
\npz.g^c_  
  j|VXC(6P,  
在VirtualLab Fusion中构建系统 AH&9Nye8  
l^k+E-w\  
1. 系统构建模块 |x &Z~y  
= :Po%Z%{  
O6yP qG*j  
=m`l%V[  
2. 组件连接器 IWAj Mwo  
OuB2 x=B  
A)8rk_92Q  
  Dba+z-3Nzy  
几何光学仿真 ?E%+}P  
K<c2P
Fo)Q  
以光线追迹 A&N$tH  
FyCBNtCv  
1. 结果：光线追迹 49o\^<4b  
1{^CfamF  
!?jK1{E3  
  (FuEd11R  
快速物理光学仿真 WPIZi[hBs  
>wA+[81[  
以场追迹 19
'5Re&  
}@wVW))6$  
1. NA=1.4时的光栅成像 W;qP=DK2  
-!l^]MU  
012Lwd  
EOhC6>ATh  
2.  NA=0.75时的光栅成像 "rsSW3_  
&Y+e=1a+  
gSb,s [p&+  
M_Bu,<q^  
3. NA=0.5时的光栅成像 "TfI+QgLF  
   7{4w
2)