[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 wet[f{c  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ]+3M\ ib  
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1. 案例 zrG  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 2,`X@N`\  
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1. 系统构建模块 k'H[aYMA  
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2. 组件连接器 v @0G^z|  
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几何光学仿真 8IQ}%|lN  
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以光线追迹 @48!e-W  
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1. 结果：光线追迹 f_[dFKoX  
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快速物理光学仿真 ,52 IR[I<T  
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以场追迹 8a)Brl}u  
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1. NA=1.4时的光栅成像 7x>^ip"7  
T)7U+~nQ"  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 OZe&p  
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3. NA=0.5时的光栅成像 YX-j|m|  
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