[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 IsB=G-s  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 |&rxDf}W  
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1. 案例 %weG}gCM  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 FFID<Lf/2  
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1. 系统构建模块 f#zm}
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2. 组件连接器 .wz.Jr`{  
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几何光学仿真 \v[?4[  
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以光线追迹 B]|"ePj-  
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1. 结果：光线追迹 u}I\!-EX!v  
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  %vFoTu)2  
快速物理光学仿真 ?:XbZ"25pJ  
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以场追迹 a}MSA/K(  
cq \()uF'c  
1. NA=1.4时的光栅成像 yUzpl[*e^o  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 n; fUwon  
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3. NA=0.5时的光栅成像 |T@\-8Ok  
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