[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 ,eZ'pxt  
HP?e?3.T  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 "bw4{pa+  
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1. 案例 KNK0w5  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 xJO[pT v  
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1. 系统构建模块 _~_Hup  
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S++}kR);  
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2. 组件连接器 q.g!WLiI  
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几何光学仿真 @l@lE0  
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以光线追迹 gzC\6ca
 
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1. 结果：光线追迹 NghQ#c  
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快速物理光学仿真 5E.cJ{  
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以场追迹 #s]]\  
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1. NA=1.4时的光栅成像 N>gv!z[E  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 778L[wYe  
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3. NA=0.5时的光栅成像 S:oZ&   
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