[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 U9b[t  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 e\[q3J  
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1. 案例 2D"my]FnF  
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86-Rm  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 3-:^mRPJ  
I F!xZ6X8  
1. 系统构建模块 <>n|_6'$90  
44P [P{y  

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?87\_wL/j  
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2. 组件连接器 %_Lz0L64k  
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(9aOET>GG  
  i{$P.i/&  
几何光学仿真 JC~sz^>p\  
LA\3 ,Uv  
以光线追迹 w)vpo/?  
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1. 结果：光线追迹 iH-,l  
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CT|0KB&  
  5TuwXz1v  
快速物理光学仿真 MYara;k  
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以场追迹 oP56f"BE(  
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1. NA=1.4时的光栅成像 P(8Yz W  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 b&h'>(  
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3. NA=0.5时的光栅成像 !fAvxR  
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