[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 I}1<epd ,  
t[x[X4  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 0p!N'7N  
<^B!.zQ  
JL&ni]m  
dF0:'y  
1. 案例 jX 6+~  
$ iU~p  
"aeKrMgc6V  
  ? p^':@=  
在VirtualLab Fusion中构建系统 Y'M}lv$sa  
|NaEXzo|qY  
1. 系统构建模块 S3_QOL  
,ikn%l#cm  
;X[23A{
 
Pna2IB+  
2. 组件连接器 C'CdVDmX  
iVb#X#  
*(]@T@yN  
  RaY=~g  
几何光学仿真 C**kJ  
-xc'P,`  
以光线追迹 407;M%?'A  
' $X}'u  
1. 结果：光线追迹 J`{HMv  
K9f7,/  
>rzpYc'~w  
  5}_D
yoV  
快速物理光学仿真 ?kM53zbT#  
DSx D531[A  
以场追迹 ;/<J&#2.  
Ue]GHJ2  
1. NA=1.4时的光栅成像 zj9aaZ}  
XW9 [VUW~  

e+>&
? x  

+Ek('KOF  
2.  NA=0.75时的光栅成像 Oz_|pu  
j 1#T]CDs  
Z )dz  
p3(&9~s  
3. NA=0.5时的光栅成像 t=oTU,<  
   @Xe[5T