[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 3]Lk}0atpL  

-{b1&  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 O\KAvoQ%s  
[Iihk5TT  
iK%Rq  
Ft.BfgJ$  
1. 案例 Dfhs@ z  
OEwfNZQ-  
q=1SP@;\6  
  M*S5&x
pX  
在VirtualLab Fusion中构建系统 u\.sS|
$  
lIFU7g  
1. 系统构建模块 4QZy-a*tA  
=;/h{ t  
V_W=MWs&+  
VYAe!{[  
2. 组件连接器 "^D6%I#T  
^&rbI,D  
}\*Sf[EMD  
  ( L6`_)  
几何光学仿真 Y) t}%62  
*-Yw0Y[E  
以光线追迹 KnFbRhu[  
'Lw\nO.  
1. 结果：光线追迹 z0W+4meoH  
|B`tRq  
%ej"ZeM  
  x/S%NySG  
快速物理光学仿真 5#F+-9r  
&^7)yS+C  
以场追迹 4#YklVm
 
5k(#kyP  
1. NA=1.4时的光栅成像 zXCIn  
&4[iC/}  
A{o{o++  
M#>GU<4"  
2.  NA=0.75时的光栅成像 "}EbA3  
X>6a@$MxP  
J@TM>R  
4>E2G:  
3. NA=0.5时的光栅成像 By_Ui6:D  
   ~Iu09t|a