[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 (Jz;W<E  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 o sKKt?^?  
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1. 案例 B&D}F=U  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 $56,$K`H  
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1. 系统构建模块 Q-1vw6d  
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2. 组件连接器 lok=  
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几何光学仿真 ,G)r=$XU  
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以光线追迹 h<$MyN4]g  
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1. 结果：光线追迹 VNY%R,6  
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  Cg(Y&Gxf.  
快速物理光学仿真 MG.` r{5  
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以场追迹 <u2}i<#  
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1. NA=1.4时的光栅成像 ?"g!  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 Ft
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3. NA=0.5时的光栅成像 .
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